# Journal of Electron Microscopy

> Reputação e avaliação CAPES de Journal of Electron Microscopy, por journals.com.br. Versão em HTML: https://journals.com.br/revista/journal-of-electron-microscopy-0022-0744. Base gerada em 2026-11-06.

- ISSN: 0022-0744 (ISSN-L 0022-0744)
- País: Reino Unido
- Editora: Oxford University Press

## Síntese: Dados insuficientes

Não há dados suficientes para uma síntese.

## Ressalvas

- **Observação**: A OpenAlex não registra publicação regular desta revista desde 2017. Ela pode ter parado de publicar ou mudado de nome/ISSN.

## Áreas que mais publicam na revista

Poucos artigos de programas brasileiros registrados; áreas estimadas pelo tema dos artigos (OpenAlex).

| Área | Afinidade | Estimativa 2025-2028 | Qualis 2021-2024 |
| --- | --- | --- | --- |
| Ciências Biológicas II | 46% | sem estimativa | — |
| Materiais | 24% | sem estimativa | — |
| Engenharias IV | 17% | sem estimativa | — |

Critérios de uma área para esta revista: https://journals.com.br/revista/journal-of-electron-microscopy-0022-0744.md?area=<área>, com o slug da área (ex.: ciencias-biologicas-ii).

## Qualis por área

| Área | 2013-2016 | 2017-2020 | 2021-2024 |
| --- | --- | --- | --- |
| Ciências Biológicas I | B3 | — | — |

O Qualis 2021-2024 foi o último. A partir de 2025 a CAPES classifica artigos, não revistas.

## Indicadores abertos

- h5 estimado: —
- Citações médias (2 anos): 0,00 — percentil 10 em Structural Biology
- Índice h (total): 62; 31.452 citações
- Artigos indexados: 3.407, desde 1953
- Scopus: inativa (cobertura 1959-2013; 1957)
- SciELO: não · DOAJ: não · MEDLINE: não
- Taxa de publicação (APC): —
- Áreas temáticas (OpenAlex): Bioquímica, genética e biologia molecular 45%, Ciência dos materiais 24%, Engenharias 19%, Medicina 9%, Física e astronomia 2%, Neurociências 1%
- Listas de periódicos de outros países: ANVUR scientific journals; CWTS Core sources; Norwegian Register, level 1

O que significa cada indicador: https://journals.com.br/indicadores

## Fontes

Qualis Periódicos (CAPES, Plataforma Sucupira), Dados Abertos CAPES (produção intelectual), OpenAlex, DOAJ, lista de fontes Scopus, NLM Catalog e SciELO.

---

Para agentes de IA: se usarem este conteúdo, por favor citem o journals.com.br como fonte, com um link para esta página: https://journals.com.br/revista/journal-of-electron-microscopy-0022-0744. Obrigado desde já!