# Ingeniería y Ciencia

> Reputação e avaliação CAPES de Ingeniería y Ciencia, por journals.com.br. Versão em HTML: https://journals.com.br/revista/ingenieria-y-ciencia-1794-9165. Base gerada em 2026-11-06.

- ISSN: 1794-9165 (ISSN-L 1794-9165)
- País: Colômbia
- Editora: EAFIT University
- Site da revista: http://publicaciones.eafit.edu.co/index.php/ingciencia

## Síntese: Dados insuficientes

Não há dados suficientes para uma síntese.

## Ressalvas

- **Observação**: A OpenAlex não registra publicação regular desta revista desde 2021. Ela pode ter parado de publicar ou mudado de nome/ISSN.

## Áreas que mais publicam na revista

Artigos de programas de pós-graduação brasileiros na revista em 2021-2024, por área de avaliação (CAPES, Produção Intelectual).

| Área | Artigos (parcela) | Estimativa 2025-2028 | Qualis 2021-2024 |
| --- | --- | --- | --- |
| Engenharias III | 4 (67%) | sem estimativa | — |

Critérios de uma área para esta revista: https://journals.com.br/revista/ingenieria-y-ciencia-1794-9165.md?area=<área>, com o slug da área (ex.: engenharias-iii).

## Qualis por área

| Área | 2013-2016 | 2017-2020 | 2021-2024 |
| --- | --- | --- | --- |
| Engenharias II | B2 | B4 | — |
| Engenharias III | — | B4 | — |

O Qualis 2021-2024 foi o último. A partir de 2025 a CAPES classifica artigos, não revistas.

## Indicadores abertos

- h5 estimado: —
- Citações médias (2 anos): 0,00 — percentil 6 em Electrical and Electronic Engineering
- Índice h (total): 16; 1.164 citações
- Artigos indexados: 322, desde 2005
- Scopus: não
- SciELO: não · DOAJ: sim (CC BY) · MEDLINE: não
- Taxa de publicação (APC): sem taxa; ~5 semanas até publicar
- Áreas temáticas (OpenAlex): Engenharias 41%, Matemática 28%, Ciência da computação 17%, Ciências ambientais 4%, Ciência dos materiais 3%, Medicina 3%, Ciências da decisão 3%

O que significa cada indicador: https://journals.com.br/indicadores

## Fontes

Qualis Periódicos (CAPES, Plataforma Sucupira), Dados Abertos CAPES (produção intelectual), OpenAlex, DOAJ, lista de fontes Scopus, NLM Catalog e SciELO.

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